Media Cybernetics與全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體制造組織合作，實(shí)現(xiàn)了金屬間腐蝕(IMC)分析的現(xiàn)代化。作為Image-Pro平臺的應(yīng)用程序，IMC應(yīng)用程序允許用戶通過基于向?qū)У墓ぷ髁鞒梯p松測量IMC區(qū)域。該應(yīng)用程序?qū)⒁龑?dǎo)用戶逐步完成分析過程，通過主動提示從原始圖像開始選擇感興趣區(qū)域(ROI)，然后交付最終的IMC結(jié)果。

通過檢查IC觸點(diǎn)上的電子接觸區(qū)域來分析金屬間腐蝕。在接觸點(diǎn)上方繪制的感興趣區(qū)域(ROI)內(nèi)尋找銅球端和鋁接觸點(diǎn)之間的腐蝕。通過自定義分割閾值，您可以識別未腐蝕的鋁。根據(jù)這些信息，報告ROI中不含未腐蝕鋁的面積百分比-即腐蝕產(chǎn)品覆蓋的面積百分比。

在工作流程結(jié)束時，IMC APP將自動報告感興趣區(qū)域內(nèi)IMC區(qū)域的百分比 ，通過實(shí)施IMC應(yīng)用程序簡化您的IMC分析。

由廣泛的用戶反饋驅(qū)動的定制解決方案，并由復(fù)雜的工具提供支持

?用戶友好的界面

?在IMC區(qū)域應(yīng)用程序一步一步的工作流程

?批處理分析大量圖像

?數(shù)據(jù)采集器，自動保存結(jié)果

?一鍵數(shù)據(jù)導(dǎo)出到Excel, PDF, PowerPoint等。

?業(yè)界最大的用戶社區(qū)

IMC面積測量

在IMC區(qū)域應(yīng)用程序中，可以使用“單次測量”或“批量處理”功能對單個圖像或批量圖像進(jìn)行測量。

分析過程

“校準(zhǔn)”是硬編碼在應(yīng)用程序的分析。如果需要，可以在應(yīng)用程序代碼下更改校準(zhǔn)。由于半導(dǎo)體行業(yè)的安全程序，該應(yīng)用程序的設(shè)計方式必須輸入“操作員ID”才能激活分析工具?？梢愿鶕?jù)樣本圖像中要測量的感興趣的區(qū)域/區(qū)域輸入“ROI直徑”。

對于“單一測量”，用戶將被提示使用顏色拾取工具選擇分割閾值。ROI調(diào)整可以在閾值選擇之后進(jìn)行。在選擇ROI后，將計算IMC區(qū)域的面積百分比，并與運(yùn)營商ID一起在圖像中作為疊加顯示。更詳細(xì)的數(shù)據(jù)/信息可在“數(shù)據(jù)表”中查看。通過點(diǎn)擊“快照”按鈕，可以捕獲帶有疊加的分析圖像的快照以進(jìn)行數(shù)據(jù)收集。

對于“批量測量”，用戶可以指定一個圖像文件夾進(jìn)行批量處理。其中，它將執(zhí)行與single Measure類似的分割閾值和ROI選擇步驟，并自動保存帶有疊加的快照圖像的副本。之后，打開下一張圖像進(jìn)行分析，并對分配的所有圖像重復(fù)分析/步驟

文件夾中。所有圖像的測量數(shù)據(jù)將在“數(shù)據(jù)采集表”中采集。